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差分探頭分正負(fù)嗎_差分探頭電路圖

所屬分類(lèi):風(fēng)機(jī)配件 發(fā)布日期:2024-10-09 瀏覽次數(shù):9

  內(nèi)容介紹

  中文摘要:

  本文解決差分探頭分正負(fù)嗎了從N個(gè)傳感器組成差分探頭分正負(fù)嗎的線(xiàn)性陣列中檢測(cè)完全或部分缺陷傳感器的問(wèn)題。本文首先提出差分探頭分正負(fù)嗎了一種線(xiàn)性陣列的對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu),其次,基于結(jié)合差分進(jìn)化的文化算法,建立了一種混合技術(shù)。對(duì)稱(chēng)結(jié)構(gòu)具有兩個(gè)優(yōu)點(diǎn):(1)不需要找到所有損壞的模式,僅需找到(N?1)/2個(gè)必需模式;(2)不需要掃描0°到180°區(qū)域,僅需掃描0°到90°區(qū)域。顯然,這樣可以減少計(jì)算的復(fù)雜度。通過(guò)Monte Carlo模擬對(duì)該方案性能進(jìn)行了驗(yàn)證,并在計(jì)算時(shí)間和均方誤差方面與現(xiàn)有方法進(jìn)行了比較。

  關(guān)鍵詞:

 差分探頭分正負(fù)嗎_差分探頭電路圖

  文化算法;差分進(jìn)化;線(xiàn)性對(duì)稱(chēng)傳感器陣列

  作者:

  Shafqat Ullah Khan, Ijaz Mansoor Qureshi, Fawad Zaman, Wasim Khan

  本文引用格式:

  Shafqat Ullah Khan, Ijaz Mansoor Qureshi, Fawad Zaman, Wasim Khan, 2017. Detection of faulty sensor in array using symmetrical structure and cultural algorithm hybridized with differential evolution. Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering, 18(2):235-245.

  https://dx.doi.org/10.1631/FITEE.1500315

  本文精要導(dǎo)讀:

  

  

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